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X射線面陣探測器
應用
● 數字X光機
● 航空拍攝
● 生化檢測
● X射線工業探傷
● 工業檢測
基本特性
探測能量范圍 | 30kV - 160kV |
閃爍體材料 | CsI（碘化銫） |
面陣尺寸 | 50mm x 50mm |
有效像素數 | 4096 x 4096 |
總像素數 | 4145 x 4128 |
像素尺寸 | 9μm x 9μm |
CCD類型 | 全幀CCD |
系統分辨率 | ≥16Lp/mm |
滿井電荷數 | 100Ke- |
像素合并 | 1X1, 2X2, 3X3, 4X4 |
曝光時間 | 0.01s~100s，曝光控制精度1ms |
最快讀出時間 | 每幀4.8秒 |
最快讀出頻率 | 4MHz |
讀出噪聲 | 10e-RMS@4MHz，6e-RMS@1MHz |
暗電流噪聲 | ≤1e- /pixel/sec（-20℃） |
量子效率 | 50% ~60%(480nm-650nm); 40%~50%（400nm-700nm） |
ADC精度 | 16-bits |
輸出方式 | 千兆以太網（Ethernet，UDP） |
制冷方式 | TE二級制冷，低于環境溫度40℃ |
工作溫度 | -20 - +60℃，溫度穩定度±0.1℃ |
相對濕度 | 30 - 80％ |
輸入電壓 | +5V DC，安全范圍：+4V - +5.5V |
觸發口 | 1外觸發輸入端口，1外觸發輸出端口 |
快門方式 | 電子快門 |
